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Referierte Publikationen

Artikel in Zeitschriften (referiert) [10]

[Wei16] Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.; Shpitalni, M.: Design of deep convolutional neural network architectures for automated feature extraction in industrial inspection. In: CIRP Annals - Manufacturing Technology, 65(2016)1, pp. 417–420, DOI 10.1016/j.cirp.2016.04.072
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[Sta15] Staar, B.; Lütjen, M.: Qualitätsprüfung im Mikrobereich - Vorstellung einer Lösung zur automatisierten Messung von Mikrobauteilen. In: Industrie Management, 31(2015)6, S. 28-31
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[Wei14d] Weimer, D.; Huferath-v. Lüpke, S.; Tausendfreund, A.; Bergmann, R.B.; Goch, G.; Scholz-Reiter, B.: Dimensional In Situ Shape and Surface Inspection of Metallic Micro Components in Micro Bulk Manufacturing. In: Advanced Materials Research, 1018(2014)0, pp. 493-500, DOI 10.4028/www.scientific.net/AMR.1018.493
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[Wei13a] Weimer, D.; Thamer, H.; Scholz-Reiter, B.: Automatische Registrierung simulierter 3D Sensordaten komplexer Mikrobauteile. In: Industrie Management, 29(2013)2, S. 49-52
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[Lüt12d] Lütjen, M.; Rippel, D.; Weimer, D.; Gandecki, S.; Kleefeld, S.: Herausforderungen der Mikrohandhabung. In: Industrie Management, 28(2012)6, S. 51-54 (auch Projekt: SFB747 - C4)
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[Scho12j] Scholz-Reiter, B.; Weimer, D.; Thamer, H.: Automated Surface Inspection of Cold Formed Micro Parts. In: CIRP Annals 2012 - Manufacturing Technology, Annals of the International Academy for Production Engineering, 61(2012)1, pp. 531-534, DOI 10.1016/j.cirp.2012.03.131
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[Wei12] Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.: Präzise Detektion von Oberflächenfehlern im Mikrobereich. In: Industrie Management, 28(2012)5, S. 61-64
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[Scho10k] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Lübke, K.; Thamer, H.; Hildebrandt, T.: Klassifikation von Oberflächenunvollkommenheiten in der Mikrokaltumformung. In: ZWF - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb, 105(2010)1, S. 42-46
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[Scho10l] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Lappe, D.; Thamer, H.; Brenner, N.: Logistische Qualitätslenkung in der Mikrokaltumformung - Einsatz von Fuzzy-Regelung zur Optimierung von Stichprobenintervallen. In: Industrie Management, 26(2010)4, S. 13-16
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[Scho10ay] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Oberflächenprüfung von Mikrobauteilen. In: Industrie Management, 26(2010)3, S. 43-46
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Konferenzbeiträge (referiert) [12]

[Ago18] Agour, M.; Falldorf, C.; Staar, B.; von Freyberg, A.; Fischer, A.; Lütjen, M.; Bergmann, R.B.: Fast Quality Inspection of Micro Cold Formed Parts using Telecentric Digital Holographic Microscopy. In: 5th International Conference on New Forming Technology (ICNFT 2018). EDP Sciences, Paris, France, 2018, pp. 8, DOI 10.1051/matecconf/201819015008
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[Sta18] Staar B.; Lütjen M.; Freitag M.: Anomaly Detection with Convolutional Neural Networks for Industrial Surface Inspection. In: 12th CIRP Conference on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering - CIRP ICME \\\\\\\'18. Elsevier B.V, Amsterdam, NL, 2018, pp. 484-489, DOI 10.1016/j.procir.2019.02.123
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[Sta17a] Staar, B.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Präzise Oberflächendefekterkennung in Mikrobauteilen mit neuronalen Netzen. In: Vollertsen F.; Hopmann C.; Schulze V.; Wulfsberg J. (Hrsg.): 8. Kolloquium Mikroproduktion. BIAS Verlag, Bremen, 2017, S. 11-16
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[Sta16b] Staar, B.; Flosky, H.; Lütjen, M.: Fast and Reliable Quality Inspection of Micro Parts. In: Dimitrov D.; Oosthuizen T. (eds.): Proceedings of the International Conference on Competitive Manufacturing. Global Competitiveness Centre in Engineering; Stellenbosch University, Stellenbosch, ZA, 2016, pp. 237-242
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[Sta16] Staar, B.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Real-time Anomaly Detection Along the Outer Walls of Circular Objects (WIP). In: de Rango, Floriano; Marn, José Luis Risco ; D’Ambrogio, Andrea; Nicolescu, Gabriela (eds.): Proceedings of Summer Computer Simulation Conference (SCSC). Society for Modeling and Simulation International, Vista, CA, USA, 2016, pp. 461-467
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[Rip15] Rippel, D.; Hildebrandt, T.; Staar, B.; Weimer, D.; Lütjen, M.: Prognosebasierte Bestimmung von Wartungszeitpunkten für die Mikrofertigung. In: Hopmann, Ch.; Brecher, Ch.; Dietzel, A.; Drummer, D.; Hanemann, T.; Manke, E.; Schomburg, W. K.; Schulze, V. ; Vollertsen, F. ; Wulfsberg, J.-P. (Hrsg.): 7. Kolloquium Mikroproduktion in Aachen. Institut für Kunststoffverarbeitung (IKV), Aachen, 2015, S. 87-93 (auch Projekt: SFB747 - C4)
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[Wei14] Weimer, D.; Thamer, H.; Fellmann, C.; Lütjen, M.; Thoben, K.D.; Scholz-Reiter, B.: Towards 100% in-situ 2D/3D quality inspection of metallic micro components using plenoptic cameras. In: Procedia CIRP. CIRP, Paris, 2014, pp. 847-852, DOI 10.1016/j.procir.2014.01.115
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[Wei14a] Weimer, D.; Rippel, D.; Hildebrandt, T.; Lütjen, M.; Scholz-Reiter, B.: A Strategy for Logistic Quality Control in Micro Bulk Production. In: Denkena, B.; Duffie, N.; Vollertsen, F. (eds.): Procedia Technology. New Challenges for Product and Production Engineering, Procedia CIRP, Paris, 2014, pp. 323 - 332, DOI 10.1016/j.protcy.2014.09.086 (also project: SFB747 - C4)
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[Wei14c] Weimer, D.; Huferath-von Luepke, S.; Falldorf, C.; Lütjen, M.; Kreis, Th.; von Freyberg, A.; Bergmann, R.B.; Goch, G.; Scholz-Reiter, B.: A Comparison of in-situ Measuring Systems within Micro Cold Forming. In: Proceedings of the International Conference on Nanomanufacturing. Procedia, Bremen, 2014, pp. 1-6
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[Pio13] Piotrowska-Kurczewski, I. ; Schlasche, J.W. ; Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.; Maass, P.: Image Denoising and Quality Inspection of Micro Components Using Perona-Malik Diffusion. In: Procedia CIRP (Conference on Modeling of Machining Operations (CIRP CMMO)). CIRP, Paris, 2013, pp. 431 - 436
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[Wei13] Weimer, D.; Thamer, H.; Scholz-Reiter, B.: Learning Defect Classifiers for Textured Surfaces Using Neural Networks and Statistical Feature Representations. In: Proceedings of the CIRP Conference on Manufacturing Systems (CMS). Elservier, London, 2013, pp. 347-352, DOI 10.1016/j.procir.2013.05.059
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[Scho12g] Scholz-Reiter, B.; Rippel, D.; Weimer, D.; Jacobi, J.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Process Design for Automated Surface Inspection in Micro Cold Forming. In: Proceedings of the 8th International Workshop on Microfactories. University of Tampere, Tampere, 2012, pp. 1-7 (also project: SFB747 - C4)
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Beiträge zu Sammelbänden (auch in Schriftenreihen) (referiert) [3]

[Ago20] Agour, M.; von Freyberg, A.; Staar, B.; Falldorf, C.; Fischer, A.; Lütjen, M.; Freitag, M.; Goch, G.; Bergman, R.B.: Quality inspection and logistic quality assurance of micro technical manufacturing processes. In: Cold Micro Metal Forming, Lecture Notes in Production Engineering. Springer, Cham, 2020, pp. 245-274, DOI 10.1007/978-3-030-11280-6_5
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[Scho13i] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Weimer, D.; Rippel, D.; Thamer, H.: Quality-oriented Design of Process Chains. In: Vollertsen, F. (eds.): Micro Metal Forming, Lecture Notes in Production Engineering. Springer, Berlin, 2013, pp. 415-430 (also project: SFB747 - C4)
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[Scho10aw] Scholz-Reiter, B.; Thamer, H.; Lütjen, M.: Automated Surface Inspection of Micro Parts. In: Ao, S.-I.; Katagiri, H.; Xu, L.; Chan, A.H.-S. (eds.): IAENG Transactions on Engineering Technologies Volume 5. American Institute of Physics, New York, 2010, pp. 301-315
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Nicht-referierte Publikationen

Artikel in Zeitschriften (nicht referiert) [2]

[Sta16a] Staar, B.; Flosky, H.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Automatische Qualitätsinspektion von Mikronäpfen. In: productivity, 21(2016)4, S. 57-60
[ BibTeX ]

[Scho10i] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Towards Automated Visual Inspection and Classification of Micro-Parts. In: WSEAS Transactions on Applied and Theoretical Mechanics, 5(2010)1, S. 112-121


Konferenzbeiträge (nicht referiert) [4]

[Wei15a] Weimer, D.; Benggolo, A.; Freitag, M.: Context-aware Deep Convolutional Neural Networks for Industrial Inspection. In: Leitner, J. ; Cherian, A.; Shirazi, S. (eds.): Australasian Joint Conference on Artificial Intelligence. Deep Learning and its Applications in Vision and Robotics (Workshop), Queensland University of Technology, Queensland, Australia, 2015, pp. 4, DOI 10.13140/RG.2.1.2428.3765
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[Tha13f] Thamer, H.; Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.: A Test Environment for Feature-Based Range Data Registration. In: Recent Advances in Computer Science and Applications. WSEAS Press, Valencia, 2013, pp. 126-131

[Scho11w] Scholz-Reiter, B.; Thamer, H.; Lütjen, M.: Optical Quality Assurance in Micro Production. In: Proceedings of the International MultiConference of Engineers and Computer Scientists 2010 Vol III. Newswood Limited - International Association of Engineers, Hong Kong, CN, 2011, pp. 1521-1525

[Scho09f] Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.; Dickmann, D.: Towards Machine Vision based Surface Inspection of Micro-Parts. In: 5th WSEAS International Conference on Applied and Theoretical Mechanics (MECHANICS ’09). WSEAS Press, Athens, GR, 2009, pp. 97-102



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Hinweis für Publikationen in mittlerweile fragwürdigen Quellen

Der Verlag, bei dem diese Publikation erschienen ist, steht heute unter dem Verdacht, ein Raubverlag zu sein. Der Beitrag ist auf Basis eines drittmittelfinanzierten Forschungsprojektes entstanden. Er ist Teil des Projekt-Abschlussberichts, der durch anonyme Gutachter geprüft wurde. Diese äußerten keine Kritik an der Publikation. Zum Teil handelt es sich bei diesen Veröffentlichungen um Dopplungen, da im Anschluss an einige Konferenzen zusätzlich zum Konferenzbeitrag ein sogenanntes extended paper veröffentlicht wurde.